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中国科学院光电技术研究所
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长光栅位移数字测量系统

  • 商品售价:面议
  • 所属行业:控制系统 检测设备 
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产品介绍

  本产品用于数显、数控机床的位置测量;光栅刻划机、长度测量机、计量仪器的位置数字测量;各种直线位移的数显及数控系统;旧机床数显改造,提高工效,提高精度。

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